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Leica APO-Summicron-M 50/2 Negro ASPH
Leica APO-Summicron-M 50/2 Negro ASPH
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Leica APO-Summicron-M 50/2 Negro ASPH
Precio rebajado - 1.291,00 €

Leica APO-Summicron-M 50/2 Negro ASPH

Leica APO-Summicron-M 50/2 Negro ASPH (Pedido bajo comanda)

  • Alta luminosidad
  • Objetivo compacto y ligero
  • Diseño robusto
11141
1 Artículo

Referencias específicas

6.109,00 €
7.400,00 €
Impuestos incluidos
Cantidad
Pedido bajo comanda (entrega de 10 a 15)

Este práctico objetivo universal es uno de los mejores entre los objetivos de alta luminosidad y distancia focal estándar. Una distorsión extremadamente baja y una calidad de imagen extraordinaria en toda el área de la imagen incluso a máxima apertura hacen del SUMMICRON un objetivo ideal para aquellos que buscan una herramienta poderosa y a la vez ligera.

Características clave:
Leica de longitud focal estándar de alta calidad para aprovechar al máximo los sistemas de cámara de alta resolución.
Prestaciones extremadamente altas que marcan nuevos estándares.
Gran contraste de los detalles y alta nitidez de la imagen desde un extremo a otro de la imagen.
Corrección apocromática (APO) mediante vidrios ópticos especialmente formulados que minimiza la aberración cromática en los bordes para asegurar la reproducción natural de todos los detalles.
Incorpora un elemento flotante para logra una impresionante calidad de imagen en toda la gama de distancias de enfoque, incluyendo las más cercanas.
Extremada robustez y fiabilidad
‘Made in Germany’, manufacturado solo con los mejores materiales y ensamblado en un elaborado proceso manual.

Datos técnicos objetivo
El MTF es indicado tanto en plena apertura como en f/5.6 en la tomas a infinito. Se muestra el contraste en porcentajes para 5, 10, 20 y 40 lp/mm a través de película de 35 mm, para lineas tangenciales (línea de puntos) y para lineas sagitales (línea continua) estructuras, en luz blanca. Los 5 y 10 lp/mm darán una indicación en cuanto a el proporción de contraste para estructuras de objeto grandes. El 20 y 40 lp/mm registran la resolución de más fino y las estructuras de objeto más finas.

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